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美国MTI二维-激光位移传感器

美国MTI二维-激光位移传感器

简要描述:美国MTI二维-激光位移传感器在不同的应用中都有非常好的性能 ProTrak G 系列产品,体积小,可用于狭小的空间。该系列 2D/3D 传感器采用 CMOS 技术, 可以达到很高的分辨率和测量精度,并且测量速度高达 4,000 Hz,。它集成了内置设定显示,是一款专业的 高精度测量工具,我们还提供了软件开发包,用千兆以太网做传输,方便用户做集成。测量范围从 36mm 到 400mm。

产品型号: 美国MTI/ProTrakTM 2D/3D

所属分类:激光位移传感器

更新时间:2021-10-12

详细说明:

美国MTI二维-激光位移传感器简介:

       二维激光位移感应器ProTrakTM 2D/3D 系列(PT-G系列)在不同的应用中都有非常好的性能 ProTrak G 系列产品,体积非常小,可用于非常狭小的空间。该系列 2D/3D 传感器采用 CMOS 技术, 可以达到很高的分辨率和测量精度,并且测量速度高达 4,000 Hz,。它集成了内置设定显示,是一款专业的 高精度测量工具,我们还提供了软件开发包,用千兆以太网做传输,方便用户做集成。测量范围从 36mm 到 400mm。

特点:

1、达到千兆速度;

2、SUPER FAST 每秒可达4,000帧;

3、高达 3.3 μm 分辨率;

4、对于黑色和光亮的表面进行了优化;

5、黑暗的表面和光亮的表面都能达到很高的测量精度和重复精度;

6、可用NI LabVIEW编程

 

在不同的应用中都有非常好的性能

A quad B 编码器输入可以用于同步测量:

焊接、厚度、位移、翘曲、台阶高度、偏转、尺寸测量、角度测量、平坦度、对齐、轮廓、胶珠检测、填充高度、拉伸/收缩、结构动力、判断是否存在及产品体积。Software Interface:

购买产品都会提供DLL 数据库;

Gige接口允许使用NI Labview可视化软件集成。


美国MTI二维-激光位移传感器技术指标:

线激光测量原理

ProTrak G 使用三角测量法原理获得被测物表面的二维轮廓尺寸数据。激光发射器射出发散的激光线,它具有X起始范围和X的终止范围(宽度范围),激光线照射到被测物上,漫反射回来通过镜头在CMOS镜头阵列上。

CMOS线图像然后通过内置的电子和X-Z阵列输出处理,让其数据可以高达4KHz帧/S的速度在应用软件上显示。沿着被测物移动探头,可以让软件生成物体的3D图像。编码器输入使得X-Z轮廓数据得以同步。

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